激光粒度仪

利用光的衍射现象，即大颗粒产生的衍射角小，小颗粒产生的衍射角大，通过计算检测器上收集到的不同

衍射图形的光强分布，来给出颗粒的粒度大小和粒度分布。

新帕泰克公司激光粒度仪的光路采用平行光路设计

根据在多元检测器上得到的衍射光强的分布，通过颗粒大小和光强分布之间的相关公式来计算得到颗粒的

粒度分布。

在实际测量中，不同形貌的颗粒所产生的衍射图形是不一样的。检测器上所得到的不同光强分布的衍射图

形，已包含了真实颗粒的大小和其形状的信息：

平行光照射在一个球形颗粒上会产生以下几种物理现象：衍射、吸收、折射、反射。

样品输出

样品输入

傅立叶镜头

多元检测器

测试区域

激光扩束器

激光光源

θ

α

β

refraction

reflection

diffraction

particle

absorption

Fraunhofer

(no parameters)

laser light

Mie theory

x

(n-ik necessary)

颗粒大小和光强分布之间的关系：

严格的光散射电磁场理论利用光的电磁波性质，应用麦克斯韦方程对散射颗粒形成的边界条件求解，可以

得到各个光散射物理量。但是严格解法受到许多限制，对于一些复杂问题，如相关散射、复散射、非球形

颗粒等，

至今尚难以给出的结果。

Mie

理论是对处于均匀介质中的各向均匀同性的单个介质球在单色平

行光照射下的麦克斯韦方程边界条件的严格数学解，它是物理光学的一个重要的分支。

（摘自《颗粒粒径的

光学测量技术及应用》－王乃宁等编著，原子能出版社）

。

新帕泰克公司的激光粒度仪符合标准

ISO13320

，

在进行数据处理时，

根据被测物料所满足的条件，

可选择

Fraunhofer

衍射理论或

Mie

散射理论进行处理。

德国新帕泰克激光粒度仪采用模块化设计，根据对不同物料测试的需要，将不同的测试系统（如光学系统）

和不同的分散系统相结合，得到适合测试不同物料的粒度仪。

一台完整的通常由光学系统、分散系统、数据处理系统和进样系统组成。

光学系统

：

HELOS/BF

系列

：

适用量程范围

   0.1-875

微米

off-/at-line 

HELOS/KF

系列

：

适用量程范围

   0.1-8750

微米

off-/at-line 

HELOS/VARIO

系列

：

适用量程范围

    0.5-8750

微米

off-/at-line 

MYTOS

系列

：

适用量程范围

   0.25-3500

微米

        on-/in-line 

分散系统

：

干法分散系统

：

 RODOS

、

RODOS/M

、

GRADIS

、

MEGARADIS 

干湿二合一分散系统

：

 OASIS 

湿法分散系统

：

 QUIXEL

、

SUCELL

、

CUVETTE 

气雾剂分散系统

：

 SPRAYER

、

INHALER 

数据处理系统：

数据收集和处理软件：

 WINDOX

、

QT

、

MIE

、

REMO&PARA

、

DV

、

QX-BASE

、

QX-PRO 

进样系统：

干法进样系统

：

 VIBRI

、

ASPRIROS

、

TWISTER

、

ROPRON

、

INCELL 

湿法进样系统

：

 SAFIR 

应用领域

:

粉末冶金、硬质合金、稀土、磁性材料、石油、化工、制药、陶瓷、磨料、水泥、电力、电池、

能源、航空、军工、涂料、油墨、颜料、造纸、地质、水文、非金属矿、矿物加工、食品、化