美国PSS粒度仪解析度及重现性是其他同类产品*的

　　美国PSS粒度仪解析度及重现性是其他同类产品*的

　　美国PSS粒度仪采用的设计理念优化结构设计，充分有效地融合了动态光散射（DLS）和电泳光散射（ELS）技术，即可以多角度（步长0.9°）检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布，又可以小角度测量Zeta电位。粒度检测分析复合采用 Gaussian 单峰算法和拥有技术的 NiComp 无约束自由拟合多峰算法，对于多组分、粒径分布不均匀液态分散体系的分析以及胶体体系的稳定性分析具有*优势，其的解析度及重现性是其他同类产品*的。NiComp 380 ZLS通过检测分析胶体颗粒的电泳迁移率测量Zeta电位。Zeta电位是对颗粒之间相互排斥或吸引力的强度的度量，美国PSS粒度仪是表征胶体分散系稳定性的重要指标，Zeta电位（正或负）越高，体系越稳定。

　　一、美国PSS粒度仪主要特点：

　　◆ 测定粒径范围: 0.5~400 um （可得更大范围）

　　◆ 二次进样指数稀释

　　◆ 全自动进样系统

　　◆ 光 源：波长714nm大功率固体红色激光二极管

　　◆ 通道数：8-512个 （且用户可根据需要自行设定）

　　◆ 进样量：1ul-1000ul

　　◆ 测量时间：10–180s

　　◆ 美国PSS粒度仪技术的单粒子光学传感技术 （SPOS技术）

　　◆ 稀 释: 技术的全自动进样及稀释功能，避免污染物的入侵

　　◆ 误差率：< 1%, 重现性佳

　　◆ 尺寸：Counter 长48cm x宽30cm x高20cm

　　◆ Sampler 长48cm x宽30cm x高58cm

　　◆ 美国PSS粒度仪机台重量：40公斤